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                    J200飞秒激光剥蚀固体进样系统

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                    LA-ICP-MS 的量子级飞跃
                    ? ? ? ?J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下,均匀剥蚀样品成透明状,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
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                    LA-ICP-MS 的量子级飞跃

                    ? ? ? ?J200LA-fs飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破。J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下,均匀剥蚀样品成透明状,这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性,这是采用长脉冲激光技术无法达到的。
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                    减少样品的依赖性,比雾化技术精度高

                    ? ? ? ?J200LA-fs系列剥蚀样品精度高,且没有热效应。而采用长激光脉冲的系统,会发生的多种热过程,改变剥蚀样品的数量和化学成分,如改变热特性等;并且无论采用什么波长,如266nm, 213nm 或193nm, 为了准确定量的分析元素和同位素,需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质。
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                    ? ? ? ?J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
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                    均匀一致的粒径确保高精度、高灵敏度测量

                    ? ? ? ?长激光脉冲系统产生的样品颗粒大(常大于数微米),驻留在输送管中,导致运输效率低,并且降低了分析的灵敏度。大样品颗?;够嵩贗CP-MS的瞬时信号中产生峰值,导致测量精度降低。J200系统产生的样品颗粒均匀一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,运输效率高。这些到达ICP源的颗粒能完全被消解,产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统。
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                    元素和同位素的分馏最少

                    ? ? ? ?在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程:(1)非化学计量物质剥蚀的热过程;(2)大样品颗粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的时间比长脉冲系统短,最短达1/10000。J200LA-fs系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全消解,确保在测量过程中获取高精度、稳定的元素或同位素信号。
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                    高精度元素和同位素测量的保障
                    ? ? ? ?ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是世界首个在LA-ICP-MS系统中采用飞秒激光脉冲,并实现其卓越性能的公司。J200LA-fs系统能完成最具挑战性的化学分析工作。来自ASI公司严谨的科研和技术支持是其它技术无法达到的。使用ASI公司的产品,意味着能直接和世界顶级的研究团队交流,并得到专业的技术支持。
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                    强大的∫ Integra软件与ICP-MS仪器协同操作
                    ? ? ? ?J200LA-fs系统软件∫ Integra功能直观、带图形界面,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式。∫ Integra采用双向通信控制,协同操作ICP-MS仪器达到了史无前例的水平。∫ Integra软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集,并通过串联多个“处方”,让系统自动完成各个测量工作。
                    硬件控制简单、方便
                    ? ? ? ?∫ Integra软件使J200LA-fs用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键,用户即可检查飞秒激光、气流系统、光???、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态,不同用户组可赋予不同的使用权限。
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                    获取勾边样品图像,制定复杂的激光采样模式

                    ? ? ? ?∫ Integra?软件提供大的视频窗口,显示勾边的、详细的样品图像。用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式,包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式。即使是形状怪异的结构,采用∫ Integra的模式工具也可选定,并分析其元素或同位素。
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                    双照相系统扫描样品

                    ? ? ? ?J200LA-fs 的两个相机提供广角和放大的样品图像。∫ Integra允许用户先获取样品的广角图像,然后在图像上扫视不同的位置,高倍放大选定点。
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                    智能气流控制,最大限度地获取ICP-MS等离子体的稳定性和分析性能

                    ? ? ? ?∫ Integra具备智能输送和补充气控制功能,使每种气体按预定的方式达到设定值,同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态,防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。
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                    “处方”功能让系统自动运行

                    ? ? ? ?用户可将多个硬件部件运行命令集合,并按时间顺序排列,形成∫ Integra“处方”。制定完成的处方,以后也可以调用。多个处方可编制成组,自动顺序执行,使测量工作高度自动化。
                    可简单采用“recall”命令调用“处方”,重复实验,也可复制部分“处方”,结合新的命令,完成新的采样过程。

                    主要技术指标

                    激光器 工业级高频Ytterbium diode飞秒激光器,343 nm和1030 nm,频率可调,最大10KHz
                    能量控制 连续可调光学衰减器,集成激光能量监测单元
                    激光光闸 自动光闸保证激光能量稳定
                    激光脉冲能量(激光头输出) 最大150μJ/脉冲 @ 343 nm* ,最大 1mJ/脉冲 @ 1030 nm
                    激光光斑大小控制 3-70微米,结合了自动光束扩展器和狭缝成像
                    光斑大小范围取决于不同设备的型号,可用户自定义光斑大小范围
                    自动X-Y轴 100 mm X 100 mm 行程范围,分辨率0.2微米
                    自动Z轴 35mm行程范围,Z轴可以实现样品自动高度调整,分辨率0.5微米
                    剥蚀点定位 红色激光具有更好的信号精度,ASI的自动对焦专利技术
                    样品图像 高分辨率的双CMOS镜头,用于高倍放大和大视野预览,支持光学变焦
                    样品成像光源 泛光LED灯,同轴反射光和透明光源,正交十字光
                    气体控制 双路数字流量控制器,可选第三个流量控制器(用于氮气或其他气体)
                    电控两向和三向阀,ASI专利气体控制单元
                    样品室 Flex? 样品室具有系列可更换的垫片,适合不同大小的样品
                    Vertex?样品室具有快速冲洗效率和大量样品的运送能力
                    可用户自定义样品固定装置,ASI专利LIBS测量兼容性
                    与ICP-MS通讯 在J200和ICP-MS之间实现双向控制
                    LIBS检测器
                    ?(仅适用于Tandem系统)
                    Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器
                    仪器软件 Axiom LA系统操作软件,ASI专利的TruLIBS?发射光谱数据库(用于Tandem系统)
                    Clarity Femto数据处理软件(处理LA-ICP-MS和LIBS的数据,进行定量计算/物质分类)
                    激光安全等级 一级激光产品,样品加载区域有光学安全隔离板,激光自锁?;ぷ爸?/span>
                    系统尺寸 70” (长) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (仅LA主机)
                    75” (长) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(长) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS检测器)
                    重量 600 lbs [272Kg](仅LA主机);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)
                    供电要求 110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保险10A
                    质保 所有硬件和软件质保一年,飞秒激光器质保两年
                    认证 CE认证
                    可选项 LA升级为Tandem系统
                    延保 可签署多年质保和服务协议
                    * 通常作用在样品表面的激光能量大约是20-80 μJ
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                    应用案例
                    植物样品表层及深层元素分布
                    ? ? ? ?采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器,10个脉冲,脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。

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                    大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱

                    ? ? ? ?大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物,大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ,镉含量不得大于0.1mg/kg,但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准,韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品,分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明,砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面,并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。
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                    产地:美国

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